CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
/ Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
المؤلف
/ Andrei Pavlov, Manoj Sachdevالناشر
Springerطبع 1
978-1-4020-8363-1
قائمة
شناسنامه
العنوان واسم المؤلف
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test / / Andrei Pavlov, Manoj Sachdevبيانات النشر
: Springer، 2008مالمعرّفات المضافة
نویسنده.
اللغة
انگلیسیالفهرس
کانورتور