Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, 2nd Edition
/ Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, 2nd Edition
المؤلف
/ Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvezالناشر
Springerطبع 1
978-0-387-46547-0
قائمة
شناسنامه
العنوان واسم المؤلف
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, 2nd Edition / / Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvezبيانات النشر
: Springer، 2007مالمعرّفات المضافة
نویسنده.
اللغة
انگلیسیالفهرس
کانورتور