Materals reliability issues in microelectronics
Materals reliability issues in microelectronics
طبع 1
1-55899-119-0
قائمة
شناسنامه
العنوان واسم المؤلف
Materals reliability issues in microelectronicsبيانات النشر
پیتسبرگ : : Materials Research Society، 1991مالمواصفات الشكلية
xiii, [360] p.؛ ; 23 cm؛ : fig..الموضوع
MicroelectronicsReliability
Congresses
Microelectronics
Materials
Testing
Congresses
Electrodiffusion
Congtesses
Microstructure
Congresses
مسلسل
(Material Research Society؛ ; v.225)المعرّفات المضافة
Lloyd, James R، نویسنده .
Ho, Paul S، نویسنده .
Materials Research Society، نویسنده .
MRS Symposium on Materials reliability Issues in Microelectronics(1st: 1991: Anaheim, Calif.)، نویسنده .
Ho, Paul S، نویسنده .
Materials Research Society، نویسنده .
MRS Symposium on Materials reliability Issues in Microelectronics(1st: 1991: Anaheim, Calif.)، نویسنده .
اللغة
انگلیسیرقم الاسترجاع
المؤتمر:
ملاحظات
انگليسي.Includes bibliographical references and index.
