بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري
/ نيره قبادي
بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري
المؤلف
/ نيره قباديطبع 1
قائمة
شناسنامه
المدخل الرئيسي
قبادي، نيره، نویسندهالعنوان واسم المؤلف
بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري / / نيره قباديالمواصفات الشكلية
97 ص.؛ : تصوير، نمودار، جدول.الموضوع
قابليت اطمينانReliability
مدار مجتمع سي ماس
CMOS integrated circuit
سيليكون ها
Silicones
تزريق حامل هاي پر انرژي
Hot Carrier Injection
ناپايداري دما و باياس منفي
Negative Bias Temperature Instability
اللغة
فارسی