بهبود آزمون پذیری حافظه STT-MRAM در حضور نوسانات فرآیند
شیوا تقی پور
بهبود آزمون پذیری حافظه STT-MRAM در حضور نوسانات فرآیند
المؤلف
شیوا تقی پورطبع 1
قائمة
شناسنامه
المدخل الرئيسي
تقی پور، شیوا، نویسندهالعنوان واسم المؤلف
بهبود آزمون پذیری حافظه STT-MRAM در حضور نوسانات فرآیند / شیوا تقی پورالمواصفات الشكلية
ز،11ص.؛ جدول، نمودار، تصویر.الموضوع
نوسانهااشکال HtD
آزمون پذیری
حافظه STT-MRAM
مدار DFT
Oscillations
اللغة
فارسی