CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
/ Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
نویسنده
/ Andrei Pavlov, Manoj Sachdevناشر
Springerنسخه 1
978-1-4020-8363-1
فهرست
شناسنامه
عنوان و نام پدیدآور
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test / / Andrei Pavlov, Manoj Sachdevمشخصات نشر
: Springer، 2008مشناسه های افزوده
نویسنده.
زبان
انگلیسیفهرست نویس
کانورتور