بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري
/ نيره قبادي
بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري
Author
/ نيره قباديEdition 1
list
شناسنامه
Main Entry
قبادي، نيره، نویسندهTitle and Author
بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري / / نيره قباديPhysical Description
97 ص.؛ : تصوير، نمودار، جدول.Subject
قابليت اطمينانReliability
مدار مجتمع سي ماس
CMOS integrated circuit
سيليكون ها
Silicones
تزريق حامل هاي پر انرژي
Hot Carrier Injection
ناپايداري دما و باياس منفي
Negative Bias Temperature Instability
Language
فارسی