بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري
/ نيره قبادي
بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري
نویسنده
/ نيره قبادينسخه 1
فهرست
شناسنامه
سرشناسه
قبادي، نيره، نویسندهعنوان و نام پدیدآور
بررسي و مدلسازي چالشهاي مربوط به قابليت اطمينان افزارههاي نانومتري / / نيره قباديمشخصات ظاهری
97 ص.؛ : تصوير، نمودار، جدول.موضوع
قابليت اطمينانReliability
مدار مجتمع سي ماس
CMOS integrated circuit
سيليكون ها
Silicones
تزريق حامل هاي پر انرژي
Hot Carrier Injection
ناپايداري دما و باياس منفي
Negative Bias Temperature Instability
زبان
فارسی