بهبود آزمون پذیری حافظه STT-MRAM در حضور نوسانات فرآیند
شیوا تقی پور
بهبود آزمون پذیری حافظه STT-MRAM در حضور نوسانات فرآیند
نویسنده
شیوا تقی پورنسخه 1
فهرست
شناسنامه
سرشناسه
تقی پور، شیوا، نویسندهعنوان و نام پدیدآور
بهبود آزمون پذیری حافظه STT-MRAM در حضور نوسانات فرآیند / شیوا تقی پورمشخصات ظاهری
ز،11ص.؛ جدول، نمودار، تصویر.موضوع
نوسانهااشکال HtD
آزمون پذیری
حافظه STT-MRAM
مدار DFT
Oscillations
زبان
فارسی